10月31至11月2日，中國電子學(xué)會可靠性分會第二十屆可靠性物理年會學(xué)術(shù)盛會于在我所召開。本次大會由中國電子學(xué)會可靠性分會和電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國家級重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室聯(lián)合主辦，大會主題為“用質(zhì)量可靠性筑牢科技強(qiáng)國中國夢”。大會編輯出版的《中國電子學(xué)會可靠性分會第二十屆可靠性物理年會論文集》收錄了論文61篇，論文作者單位覆蓋航天、航空、航海、高校、研究所、企業(yè)等相關(guān)機(jī)構(gòu)。經(jīng)大會組織同行專家評審，共評選出口頭報(bào)告17篇，優(yōu)秀論文6篇。

本次會議聚焦可靠性前沿技術(shù)及展望、失效模式及失效機(jī)理、可靠性、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)與評價(jià)、可靠性設(shè)計(jì)與仿真試驗(yàn)及安全性、測試性、保障性及故障診斷等領(lǐng)域的最新科技研究成果，為來自學(xué)術(shù)界、工業(yè)界和政府機(jī)構(gòu)的100余名專家學(xué)者、行業(yè)精英、工程技術(shù)人員和在校學(xué)生搭建交流平臺，為高可靠產(chǎn)品的產(chǎn)、學(xué)、研、用協(xié)同創(chuàng)新提供便捷的交流機(jī)會。

大會共設(shè)主題報(bào)告、作者論文報(bào)告、工業(yè)行業(yè)可靠性研討會、優(yōu)秀論文頒獎等環(huán)節(jié)。大會主席由中國工程院院士劉人懷擔(dān)任，程序委員會主任為我所副所長王蘊(yùn)輝、電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國家級重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室常務(wù)副主任恩云飛。11月1日上午，我所王蘊(yùn)輝副所長致歡迎辭后，國際知名專家唐民研究員、恩云飛研究員、黃洪鐘教授和陳循教授分別作了《宇航用元器件保證方法及改進(jìn)需求》《集成電路硬件安全威脅與應(yīng)對》《智能制造裝備及其可靠性關(guān)鍵技術(shù)》《機(jī)電產(chǎn)品加速退化試驗(yàn)中的若干問題思考》等精彩的主題報(bào)告。11月1日下午，17名作者作了精彩的口頭報(bào)告，與參會代表交流討論了最新研究成果，主持人馮士維教授與可靠性分會委員共同為優(yōu)秀論文作者頒發(fā)了獲獎證書。同時(shí)，會議還組織了工業(yè)行業(yè)可靠性研討會分論壇，來自北航、華工、中航、中船、格力、商飛等單位的代表共同交流研討了重點(diǎn)行業(yè)可靠性工作開展和標(biāo)準(zhǔn)建設(shè)情況。