6月6日，由電子五所聯(lián)合散裂中子源科學(xué)中心承擔(dān)的國(guó)內(nèi)唯一“大氣中子輻照譜儀試驗(yàn)平臺(tái)”順利通過(guò)廣東省科技廳驗(yàn)收。電子五所總工程師恩云飛、散裂源中子源科學(xué)中心主任陳延偉參加項(xiàng)目驗(yàn)收會(huì)。驗(yàn)收專(zhuān)家組長(zhǎng)由中國(guó)工程院院士夏佳文擔(dān)任。驗(yàn)收專(zhuān)家組成員一致認(rèn)為，項(xiàng)目高質(zhì)量完成了各設(shè)備研制、安裝、調(diào)試與譜儀聯(lián)合調(diào)試，完成了預(yù)定任務(wù)，達(dá)到了項(xiàng)目建設(shè)指標(biāo)。

與英國(guó)ISIS ChipIr、美國(guó)LANSCE ICE House等國(guó)外同類(lèi)裝置相比，本項(xiàng)目建成的譜儀更接近大氣中子真實(shí)環(huán)境，具有中子通量高、通量可調(diào)節(jié)范圍寬、束斑尺寸大且調(diào)節(jié)靈活等優(yōu)點(diǎn)。該項(xiàng)目建成了我國(guó)首臺(tái)寬能譜大氣中子輻照試驗(yàn)平臺(tái)，可廣泛為航空、航天、電網(wǎng)、汽車(chē)電子、通信基站、醫(yī)療電子、銀行系統(tǒng)、核電控制、超算等高可靠電子信息系統(tǒng)產(chǎn)品制造提供服務(wù)，也可開(kāi)展電子信息系統(tǒng)的軟故障快速暴露、軟錯(cuò)誤率定量評(píng)估、防護(hù)及糾錯(cuò)技術(shù)驗(yàn)證等，有利于提升我國(guó)高可靠、高安全、抗輻射電子產(chǎn)品的綜合可靠性水平，助力粵港澳大灣區(qū)國(guó)家戰(zhàn)略。同時(shí)也將吸引國(guó)內(nèi)外科研機(jī)構(gòu)在此平臺(tái)上開(kāi)展前沿科學(xué)研究，提升我國(guó)在該技術(shù)領(lǐng)域的國(guó)際影響力。

該項(xiàng)目建成標(biāo)志著我所元器件可靠性技術(shù)領(lǐng)域研究新方向形成有效突破，有利于我所在元器件全空域輻照可靠性方面的布局和創(chuàng)新發(fā)展。該項(xiàng)目建成，使我所成為國(guó)內(nèi)唯一具備覆蓋阿爾法粒子和大氣中子芯片軟錯(cuò)誤率（SER）定量評(píng)估技術(shù)能力的機(jī)構(gòu)。