2011年6月17～20日，2011年IEEE質(zhì)量、可靠性、風(fēng)險(xiǎn)性、維修性及安全性國(guó)際學(xué)術(shù)會(huì)議在西安召開，此次會(huì)議由電子科技大學(xué)、中國(guó)兵工學(xué)會(huì)和IEEE可靠性學(xué)會(huì)共同主辦，電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室和西北工業(yè)大學(xué)協(xié)辦。會(huì)議旨在推進(jìn)“質(zhì)量、可靠性、維修性以及工程系統(tǒng)安全性”方面的學(xué)術(shù)交流，促進(jìn)研究成果在實(shí)踐中的應(yīng)用，并展示最先進(jìn)的工業(yè)技術(shù)進(jìn)展，進(jìn)一步提高我國(guó)可靠性研究的國(guó)際學(xué)術(shù)地位。包括國(guó)內(nèi)外學(xué)術(shù)界公認(rèn)知名專家學(xué)者、企業(yè)界代表以及青年科技工作者共約150余人參加了會(huì)議。

 恩云飛常務(wù)副主任在大會(huì)上做了《集成電路失效分析技術(shù)及挑戰(zhàn)》的主題報(bào)告，報(bào)告圍繞集成電路的發(fā)展及其對(duì)失效分析的要求、失效分析技術(shù)的發(fā)展及其應(yīng)對(duì)措施展開，并就重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室在失效分析技術(shù)和工程應(yīng)用領(lǐng)域取得的成就進(jìn)行了匯報(bào)。報(bào)告獲得了與會(huì)人員的廣泛關(guān)注與好評(píng)，許多企業(yè)界和學(xué)術(shù)界的參會(huì)代表會(huì)后紛紛與恩主任進(jìn)行交流，表達(dá)了進(jìn)一步合作的愿望。此外，重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室王力緯博士、林曉玲博士等5位同志分別在故障診斷技術(shù)、可靠性試驗(yàn)與分析技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)可靠性、數(shù)據(jù)收集與分析等專題做了大會(huì)宣講，通過(guò)與參會(huì)專家學(xué)者的溝通、交流，學(xué)到了知識(shí)，開拓了視野，得到了良好的鍛煉。

（重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室）