5月15日上午，國際電子電氣工程師協(xié)會（IEEE）電子器件學(xué)會（EDS）廣州分會2014年度第一次暨第九屆研討會（Mini-colloquium）在我所舉行。我所是IEEE EDS廣州分會的掛靠單位，本次會議由IEEE EDS學(xué)會資助，由所科技委和重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室承辦，主題為“GaN微波/功率器件、封裝及其可靠性”。

本次研討會重點(diǎn)關(guān)注GaN基新型微波、功率器件及其封裝方面的失效機(jī)理、可靠性評估的最新研究動態(tài)，邀請了美國中佛羅里達(dá)大學(xué)（UCF）的Jiann-shiun Yuan（袁建勛）教授、臺灣交通大學(xué)（NCTU）的張翼教授、香港科技大學(xué)（HKUST）的李世瑋教授、電子五所曾暢博士開展技術(shù)報(bào)告，交流最新的科研成果。本次研討會參會人數(shù)65人，主要來自我所科技人員、華南理工大學(xué)、廣東工業(yè)大學(xué)和中山大學(xué)研究生，互動積極，學(xué)術(shù)氣氛熱烈。

李世瑋教授的報(bào)告題目為“電子封裝跌落試驗(yàn)焊點(diǎn)可靠性的回顧與前瞻”，他是IEEE、ASME、IMAPS、IoP等國際學(xué)會的Fellow、IEEE CPMT學(xué)會的前會長。李教授的報(bào)告富有激情，深入淺出地論述了電子封裝焊點(diǎn)在跌落過程中的機(jī)械應(yīng)力及演變機(jī)制。

袁建勛教授的匯報(bào)題目為“RF電路可靠性”，他是美國中佛羅里達(dá)大學(xué)的教授、IEEE Fellow、IC設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)室的主任。他主要從RF電路的可靠性問題出發(fā)，針對應(yīng)力引入的參數(shù)漂移設(shè)計(jì)了各種不同的RF電路，如低噪放大器LNA、放大器、振蕩器、混合器（頻率達(dá)70GHz）等等，設(shè)計(jì)先進(jìn)可靠。

張翼教授是臺灣交通大學(xué)的教授、研發(fā)長、IEEE Fellow，他主要從事GaN微波與功率器件研究，與產(chǎn)業(yè)界的聯(lián)系非常密切，具有豐富經(jīng)驗(yàn)。他匯報(bào)的題目為“GaN基高功率器件的實(shí)現(xiàn)及其應(yīng)用”，介紹了材料生長、器件結(jié)構(gòu)、器件制作過程中的各種可靠性問題，信息量很大，具有可靠性研究具有很好的參考價值。

曾暢博士的報(bào)告題目為“GaN HEMT器件失效機(jī)理研究”，他在GaN HEMT器件上比較有造詣，在國際知名刊物發(fā)表文章多篇。該報(bào)告主要側(cè)重HEMT器件材料應(yīng)力分析、失效表征、以及失效機(jī)理解釋方面進(jìn)行詳細(xì)論述、介紹了原創(chuàng)性的成果，獲得了張教授、袁教授的贊賞。

借助IEEE這個平臺，我所與國外的知名教授或研究人員建立了定期溝通的渠道，了解了國外進(jìn)行的器件可靠性研究動態(tài)，促進(jìn)了我所在該方面的研究進(jìn)步，擴(kuò)大了我所學(xué)術(shù)影響力。[楊少華 供稿]

 

IEEE杰出講師合影

 

會場照片

 

（重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、科技委）