7月4日上午，國際電子電氣工程師協(xié)會(huì)（IEEE）電子器件學(xué)會(huì)（EDS）廣州分會(huì)2014年度第二次暨第十屆研討會(huì)（Mini-colloquium）在我所舉行。本次研討會(huì)的主題為“薄膜晶體管（TFT）及其可靠性”，重點(diǎn)關(guān)注大面陣顯示器件薄膜晶體管的結(jié)構(gòu)、工藝及可靠性動(dòng)態(tài)。會(huì)議邀請(qǐng)了美國德州農(nóng)工大學(xué)（TAMU）的Yue Kuo（郭育）教授、電子五所劉遠(yuǎn)博士開展技術(shù)報(bào)告，交流最新的科研成果。本次參會(huì)人數(shù)40人，主要來自我所科技人員、華南理工大學(xué)、廣東工業(yè)大學(xué)教師和研究生，互動(dòng)積極。

郭育教授的報(bào)告題目為“大面陣TFT量產(chǎn)技術(shù)——現(xiàn)狀及未來”，他是IEEE、ECS等國際學(xué)會(huì)的Fellow、獲過電化學(xué)學(xué)會(huì)的電子和光子學(xué)獎(jiǎng)、德州農(nóng)工大學(xué)的杰出研究和創(chuàng)新獎(jiǎng)，10項(xiàng)IBM技術(shù)獎(jiǎng)等榮譽(yù)，是TFT研究的先驅(qū)和領(lǐng)袖人物。李教授的報(bào)告深入淺出地論述了TFT的研究歷程、材料、物理和工藝，發(fā)展動(dòng)態(tài)及其應(yīng)用領(lǐng)域。這對(duì)我們了解先進(jìn)的顯示器件有很好的幫助作用。

我所劉遠(yuǎn)博士的報(bào)告題目為“銦鋅氧化物薄膜晶體管（IZO TFT）的低頻噪聲及其可靠性應(yīng)用”，他聚焦于IZO TFT的靜電、輻照以及噪聲測(cè)試表征等成果。他已在頂級(jí)期刊IEEE Electron Device Letters上發(fā)表論文多篇，系統(tǒng)里研究了TFT的失效物理機(jī)制。

借助IEEE 這個(gè)平臺(tái)，我所與國外的知名教授或研究人員建立了定期溝通的渠道，了解了國外進(jìn)行的器件可靠性研究動(dòng)態(tài)，促進(jìn)了我所在該方面的研究進(jìn)步。(楊少華供稿)

（重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室）