6月23日，產品可靠性與元器件選用分析技術研討會在上海成功舉辦。研討會由分析中心、數據中心、華東分所及重點實驗室聯合主辦。來自上海、南京、無錫、蘇州、杭州、合肥、連云港、濟南的中科院、航空航天、兵器船舶、電子等行業(yè)的50余家軍工院所和企業(yè)200人參加了研討會。

分析中心鄒雅冰高級工程師，數據中心翟芳、胡寧高級工程師以及重點實驗室周斌博士四位專家從可靠性技術基礎與應用實踐的主題出發(fā)，對可靠性的內涵、工作項目進行了詳細講解，同時介紹了電子元器件管理與設計數據資源建設解決方案的相關內容，并且針對影響電子制造工藝可靠性的關鍵因素，詳細講解了電子制造可靠性保證體系中的相關熱點問題、典型案例，并且重點分析了電裝工藝可靠性整體解決方案和微電子封裝的熱特性分析技術。

會上，參會人員積極提問，會議現場氣氛高漲。會后，很多參會人員仍意猶未盡，留在會場與主講人繼續(xù)交流，普遍反映講解內容切合單位實際需求，相約后期討論進一步合作，研討會取得圓滿成功。此次研討會的與會單位行業(yè)代表性強，參會人員涉及部門廣，進一步加強了我所在軍工可靠性領域的認可程度，為促進相關交流合作奠定良好基礎。