11月17日至18日，由我所與固態(tài)技術(shù)協(xié)會（簡稱JEDEC）共同主辦的JEDEC JC-14中國工作組第三次工作會議在我所召開。JEDEC是半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域國際權(quán)威的標(biāo)準(zhǔn)化組織，JC14是其下屬的固態(tài)器件質(zhì)量與可靠性技術(shù)委員會。該組織的中國工作組由華為和我所共同牽頭，聯(lián)合國內(nèi)外知名半導(dǎo)體器件的廠商和用戶共同成立的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)組織。

來自華為、中興、聯(lián)想、TCL、海思半導(dǎo)體、深圳國威、上海華力微電子、西安紫光國芯、北京同方微電子、電子四院以及IBM、艾默生、德州儀器、威世、美高森美中國公司等相關(guān)領(lǐng)域的30余家業(yè)內(nèi)領(lǐng)軍企業(yè)的55名代表參加了會議。我所總工程師萬舉勇為大會致歡迎詞，萬總工程師強(qiáng)調(diào)積極參加標(biāo)準(zhǔn)研究的意義和在國際貿(mào)易中的價值，同時向各位代表介紹了我所的概況和技術(shù)能力，希望各位企業(yè)代表加強(qiáng)與五所的合作，利用好我所的資源。

大會圍繞目前半導(dǎo)體（固態(tài)）產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性(JC14)委員會標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究熱點，在統(tǒng)計分析技術(shù)、熱電子模型、SiC器件可靠性、假冒翻新元器件鑒別技術(shù)、元器件封裝等方面報告了相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的研究進(jìn)展，并在SiC器件為代表的寬禁帶半導(dǎo)體領(lǐng)域可靠性標(biāo)準(zhǔn)方面展開了廣泛的討論。寬禁帶半導(dǎo)體領(lǐng)域目前JEDEC標(biāo)準(zhǔn)仍為空白，JC14中國工作組以此為契機(jī)，組織國內(nèi)上下游全產(chǎn)業(yè)鏈參與，積極推進(jìn)關(guān)鍵問題研究與解決，爭取首先向JEDEC提出并通過SiC器件的可靠性鑒定標(biāo)準(zhǔn)，實現(xiàn)“彎道超越”。

我所作為JEDEC JC-14中國工作組副主席單位，在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)工作中引領(lǐng)并及時發(fā)布研究動態(tài)，幫助中國企業(yè)在JEDEC內(nèi)建立分享互動的平臺。此次會議對于我所提升在可靠性領(lǐng)域的影響力、競爭力，主導(dǎo)、參與國際標(biāo)準(zhǔn)和培養(yǎng)人才均有非常重要的意義。

我所總工程師萬舉勇致歡迎詞

JEDEC JC14中國工作組第三次會議代表合影