培訓背景：

本次培訓以講座、研討、交流的方式進行，加深學員對元器件的故障模式、影響及危害的認識，學習如何正確選擇電子元器件，設計中掌握如何延長電子產品的使用壽命。課程通過大量的分析案例講解和剖析，加深對產品設計可靠性的理解，掌握電子產品可靠性設計及失效分析、可靠性試驗的技能和方法，全面提升設計人員的可靠性技術水平，解決實際產品設計存在的問題。誠邀各單位積極報名參加。

培訓內容：

1.        可靠性指標分解方法

2.        可靠性設計

Ø   可靠性設計的思路、設計失敗的案例

Ø   某型計算機可靠性設計缺陷分析

Ø   降額設計　

Ø   容差分析

Ø   邊緣性能設計、案例　

Ø   儲備（冗余）設計

Ø   潛在通路分析

Ø   電子產品熱設計

Ø   防閂鎖設計　

Ø   案例：可維護性設計

Ø   軟件可靠設計技巧、軟件可靠設計案例

Ø   ESD防護　

3.        可靠性試驗

Ø   可靠性試驗及其分類

Ø   可靠性測定試驗

Ø   可靠性鑒定試驗

Ø   高加速壽命試驗（HALT）與高加速應力篩選（HASS）

Ø   加速壽命實驗

Ø   可靠性實驗案例介紹

4.        故障模式、影響及危害度分析（FMEA）

Ø   FMEA的意義和作用、運載火箭的案例分析

Ø   FMEA的分類（系統(tǒng)FMEA、設計FMEA和工藝FMEA）FMEA的實施步驟

Ø   FMECA的標準方法　

Ø   報警器的FMEA分析案例

Ø   QS9000和16949的FMEA方法　　

Ø   分析案例

Ø   影響FMECA工作效果的因素

5.        電子元器件的選用控制

Ø   元器件的質量等級　

Ø   DPA與失效分析技術

Ø   半導體器件質量的鑒別

6.        電子元器件的主要失效模式與預防

Ø   半導體器件的主要失效模式與預防

Ø   集成電路的主要失效模式與預防

Ø   阻容元件的主要失效模式與預防

Ø   繼電器的主要失效模式與預防

Ø   其他元器件的主要失效模式與預防

7.        合影留念并參觀中國賽寶實驗室。

培訓對象：

電子產品（組件及電子設備）制造行業(yè)的設計人員、可靠性試驗評價、設計評審和故障分析人員、質量工程師等。

培訓目的：

掌握可靠性基本理論和知識，了解電子產品質量/可靠性管理的基本方法；了解產品從設計、生產、運輸各環(huán)節(jié)環(huán)境試驗的針對性，掌握環(huán)境試驗的內容，以及對環(huán)境應力的選擇和控制，更有效的快速暴露產品缺陷。降低產品維修率。

培訓時間：

2015年6月25日—6月26日

上午：9:00 至12:00；下午：14:00 至17:00（8：45-9:00 簽到）

培訓地點：廣州市天河區(qū)東莞莊路110 號

中國賽寶實驗室(工信部電子第五研究所) 教學樓

培訓證書：

賽寶技術培訓中心培訓證書。

報名辦法：填妥報名回執(zhí)表后發(fā)送至 [email protected]或傳真至020-87236852。請于2015 年6月22日前將回執(zhí)表發(fā)至我處。產品可靠性設計、試驗與故障分析技術（FMEA）培訓 （技推處20150625-26）.doc

培訓費用：￥3000/人（含授課費，資料費，會務費、證書費、午餐費、不包括住宿費）

住宿：五所公寓標準間180元/間·天

培訓費報到時繳納或培訓之前 5 個工作日轉賬

收款賬戶：開戶名稱：工業(yè)和信息化部電子第五研究所

賬號：7443020183100002212

開戶銀行：中信銀行廣州分行

（轉賬請注明培訓費并電話通知和提供轉賬證明）

聯(lián)系方式： 020-87237165